主催：株式会社R&D支援センター
料金：49,500円
講師：（株）KRI 解析研究センター 副センター長 博士（工学）本間 秀和 氏
概要：★X線CTの原理から各種装置の特徴および金属、無機、高分子素材製品の内部構造や経時変化を解析した例を紹介します！
★CT解析結果の静止画だけでなく動画の実例や画像解析を実際に作業している工程を見せながら説明します！
※本セミナーはZoomを使ったLIVE配信セミナーです。会場での参加はできません。
X線CTは非破壊で3次元構造を詳細に解析できる有効な分析法であり、最近の装置では㎝レベルからμｍレベルまでの材料に幅広く適用できるようになっている。またPCやソフトの能力向上から、各種の画像処理とともにシミュレーションやCADと組わせた評価の実用性も高くなってきた。
本講義においてはX線CTの原理から各種装置の特徴を述べるとともに金属、無機、高分子などのさまざまな製品の内部構造や経時変化を解析した例を紹介することによりX線CTの材料評価法としての有用性を紹介する。またシミュレーションと組み合わせた評価例を紹介し、X線CT解析の今後の展開についても述べる。講演ではCT解析結果の静止画だけでなく動画の実例や画像解析を実際に作業している工程を見せながら行う。
